ANII | Agencia Nacional de Investigación e Innovación

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un microscopio de barrido que basa su operación en la interacción entre una punta y la muestra que se desea observar. Permite obtener dos tipos de medidas: imágenes de alta resolución a escalas nanométricas, y medidas locales de propiedades mecánicas (módulo elástico, adhesividad, disipación y deformación). Actualmente con el AFM del IIBCE se obtienen imágenes y propiedades mecánicas por separado, pero existen otras posibilidades como combinar ambas técnicas para obtener mapas de distintas propiedades mecánicas,o funcionalizar la punta para reconocer y estudiar moléculas sobre distintas superficies. El objetivo de éste proyecto es incorporar como prestación de la plataforma de Fuerza Atómica del IIBCE una nueva técnica: la obtención de mapas cuantitativos de propiedades mecánicas. Incorporar ésta técnica hace que la plataforma sea competitiva a nivel regional, e incluso mundial, en cuanto a las posibilidades de investigación. Para capacitarse en ésta técnica, así como en el análisis y la interpretaciones de los datos que se obtienen, se propone realizar dos pasantías en centros de investigación de la región: el Instituto de Biofísica Carlos Chagas Filho de la Universidad Federal de Río de Janeiro y el Centro de Microscopías Avanzadas de la Universidad de Buenos Aires. Ambos grupos de investigación cuentan con una gran experiencia en las diversas aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica. Un objetivo secundario es comenzar a discutir con los investigadores de la región la implementación de la funcionalización de las puntas, con la perspectiva de incorporar como prestación en el futuro la espectroscopía de fuerza y las posibilidades que esto ofrece.